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性能評価計測結果 (Performance Evaluation Results)
3 バージョン（v1.6 / v1.7 / 現行）の実機 MEMMONITOR 計測結果をまとめる．計測の目的・手段・移植方針・指標定義は PLAN_04_性能評価計測計画 を参照する．
計測条件 (Conditions)
- 計測手段: 実機 MEMMONITOR（メモリ観測ウィンドウ＋プレビュー計測）．
- カメラ: IScam（ImagingSource DFK 23UX249）．
- ビルド:
Debug|x64，MEMMONITOR有効・WHITEBOARD無効． - 副モニタ（セカンダリディスプレイ）: ON（F9 トグルは使わず ON のまま）．
- サンプリング: 500ms 間隔．メモリ主指標は
private_MB（Process.PrivateMemorySize64）．
基準プロトコル (Reference Protocol)
現行で実測した 1 本の記録を基準とし，撮影・校正の秒数を全版で揃える．撮影は単発撮影（1 枚撮影）の繰り返し．
| 時刻 | 動作 |
|---|---|
| 0〜32 秒 | プレビュー放置（副モニタ ON） |
| 32.5〜36.1 秒 | 校正 1 回（処理時間 約 3.5 秒．アプリ側処理で固定） |
| 62 / 92 / 123 秒 | 単発撮影（約 30 秒間隔で 3 回） |
| 123〜303 秒 | プレビュー放置（約 180 秒．プレビュー経路リークの観測区間） |
| 303 秒 | 単発撮影 1 回 |
| 約 348 秒 | 停止・CSV 保存 |
旧版（v1.6 / v1.7）もこの秒数・順序・撮影間隔に合わせて再現し，同じ時間軸で 3 版を重ねて比較する．
現行バージョンの結果 (Current Version)
データ: data/perf_current.csv（689 サンプル・約 348 秒）．
メモリ（保存経路 S1・プレビュー経路 S2）
| 指標 | 値 |
|---|---|
private_MB アイドル時ベースライン | 約 150 MB |
private_MB 校正後の定常包絡線 | 約 180〜200 MB（約 348 秒を通じて水平） |
| 撮影時の一時ピーク | 452〜509 MB（1〜2 秒で ~180 MB に完全復帰） |
終端（348 秒）の private_MB | 約 182 MB（校正後ベースラインと同一） |
gdi_objects / handle_count | 68〜95 / 780〜855（単調増加なし） |
- リークなし＝天井一定．撮影のたびに 452〜509 MB へ跳ねるが確定的に解放され，包絡線は水平．180 秒のプレビュー放置区間でも上昇しない（プレビュー経路リーク修正の裏付け）．
- グラフはのこぎり波になるが，見るべきはピーク包絡線のトレンド（PLAN_04 の「結果の読み方」参照）．
プレビュー性能（S3）
| 指標 | 値 |
|---|---|
main_copy_ms（FastClone コピー時間） | 大半 2.3〜2.8 ms（平均 約 2.6 ms．周期的に 5〜6 ms のスパイク） |
callback_fps（ShowImage 実効レート） | 約 30（カメラレート律速） |
| 本モニタ実描画 FPS | 約 19 で一定 |
| 副モニタ実描画 FPS | 約 19 で一定（飢餓なし） |
- FastClone により毎フレームのコピーが約 2.6 ms．
- 校正完了後も副モニタが約 19fps を維持＝両プレビューのタイマー駆動化により副モニタ描画飢餓が起きない（旧版の校正後 ≈2fps 飢餓と対比になる想定）．
注記（誤読を避けるため）
- 撮影サンプル行（例 61.7 秒）で
callback_fps≈2.5・FPS ≈1 に落ちるのは，撮影が UI を約 1.5 秒同期ブロックし 500ms サンプラが 1 コマ捉えたもの．1 サンプルだけの谷で即回復＝正常挙動． - 30〜32 秒（校正直前）の一時的な FPS 低下はチャート検出の立ち上がりによる一過性のもの．
v1.7 の結果 (v1.7)
未計測（bench/v1.7 への計測スカフォールド移植後に基準プロトコルで再現し追記する）．
v1.6 の結果 (v1.6)
未計測（bench/v1.6 への計測スカフォールド移植後に基準プロトコルで再現し追記する）．
3 版比較 (Comparison)
3 版が揃い次第，同じ時間軸で private_MB 包絡線・main_copy_ms・副モニタ FPS を重ねた比較表・グラフをここにまとめる．
関連 (Related)
- 計測計画・指標定義・移植方針: PLAN_04_性能評価計測計画．
- 自動ベンチによるメモリ計測（別手段・参考）: TEST_01_メモリ修正効果計測．